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產(chǎn)品分類(lèi) / PRODUCT

到貨!京都玉崎深圳倉(cāng)庫(kù)到貨日本SANKO測(cè)厚儀SWT-7000Ⅲ

更新時(shí)間:2024-03-19      瀏覽次數(shù):295

到貨!京都玉崎深圳倉(cāng)庫(kù)到貨日本SANKO測(cè)厚儀SWT-7000Ⅲ

三月深圳倉(cāng)庫(kù)到貨,歡迎咨詢(xún)!


三月到貨深圳倉(cāng)庫(kù)后,京都玉崎倉(cāng)庫(kù)負(fù)責(zé)人對(duì)其驗(yàn)貨,核對(duì)數(shù)量及質(zhì)量問(wèn)題安排入庫(kù),再安排人員檢驗(yàn)合格后,

均已符合出廠要求,即將發(fā)往蘇州的客戶(hù)。






產(chǎn)品詳細(xì)介紹:

SANKO山高SWT-7100III膜厚計(jì)

 SWT系列探頭可互換。

◆ 兩用型 : FN-325

◆ 鐵材用 : Fe 系列     

◆ 非鐵材 : NFe 系列

電磁式/渦電流式膜厚計(jì)

SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ  探頭可互換。簡(jiǎn)易測(cè)量。

●可根據(jù)用途來(lái)選擇探頭。

●輕巧簡(jiǎn)便。

●在LCD畫(huà)面上顯示操作的順序指引。

●4個(gè)按鍵,操作簡(jiǎn)單。

●可連接電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳送。(7100Ⅲ)

用    途

●涂層/襯層/鍍金

●耐酸層等絕緣性皮膜

規(guī)    格

測(cè)量范圍      連接探頭不同而不同(另賣(mài))

顯示方式       LCD畫(huà)面

檢量線校正     2點(diǎn)校正式

檢量線存儲(chǔ)     鐵·非鐵各一根

數(shù)據(jù)傳送       USB(7100Ⅲ)

電    源       單3電池(1.5V)×2

              專(zhuān)用電源線(7100Ⅲ)

              附帶自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

使用溫度       0~40C°(不結(jié)露)

尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

              約210g

附 屬 品      收納袋

             7100Ⅲ:專(zhuān)用電源線

                     USB連接線、USB軟件

探    頭      根據(jù)測(cè)量金屬底材來(lái)選擇。

            ·鐵底材用(Fe)

            ·非鐵底材用(NFe)

            ·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)

             (請(qǐng)參照專(zhuān)用探頭頁(yè))

探測(cè)頭型號(hào)

FN-325

測(cè)量方式

電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動(dòng)識(shí)別)

測(cè)量范圍

鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

表示分辨率

1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

     0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

     0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

測(cè)量精度

(平滑表面)

0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

或者是指示值的±2%以?xún)?nèi)

101μm~3.00mm:±2%以?xún)?nèi)(鐵底材)

101μm~2.50mm:±2%以?xún)?nèi)(非鐵底材)

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

選擇產(chǎn)品

V形探測(cè)頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正板、試驗(yàn)用零校正板、(鐵用·非鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

       電鍍(電解鎳除外)等

非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

         一般較普遍的測(cè)量物用

SWT-7000Ⅲ系列機(jī)型

機(jī)型

SWT-7000Ⅲ

SWT-7100Ⅲ

SWT-7200Ⅲ

測(cè)量范圍

連接的探測(cè)頭不同測(cè)量范圍也不同。

顯示方式

    液晶顯示LCD(數(shù)據(jù)·提示信息)、背光燈

檢量線校正

2點(diǎn)校正方式(零校正、標(biāo)準(zhǔn)校正)

檢量線存儲(chǔ)

鐵、非鐵各1根

10根

測(cè)量值存儲(chǔ)

20,000點(diǎn)

數(shù)據(jù)傳送

USB

USB

統(tǒng)計(jì)功能

內(nèi)藏

附加功能

●背光燈 ●測(cè)量模式的切換(普通/連續(xù)) ●檢量線、校正值的刪除

●自動(dòng)關(guān)機(jī)功能(約3分以上不操作時(shí),機(jī)器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)) ●分辨率的切換

●上下限值的設(shè)定(SWT-7200Ⅲ)

電源

單3電池 ×2

單3電池 ×2     專(zhuān)用電源線

使用溫度

0~40C°(不結(jié)露)

機(jī)體尺寸·重量

72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

附屬品

干電池、收納袋子

干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

追加產(chǎn)品

鐵材金屬用探測(cè)頭(Fe)、非鐵材金屬用探測(cè)頭(NFe)

鐵·非鐵材用探測(cè)頭(FN-325)






SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測(cè)頭(1)(Fe)

型號(hào)

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

測(cè)量方式

電磁感應(yīng)式

測(cè)量范圍

0~2.50mm

0~600μm

表示分解率

1μm:0~999μm

切換

             0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

             0.01mm:1.00~2.50mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

 0.5μm:400~500μm

測(cè)量精度

(平滑面)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以?xún)?nèi)

             101μm~2.50mm:±2%

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以?xún)?nèi)

101μm~600μm:±2%

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

  2.5:φ13×48mm

  2.5L:18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

測(cè)量部:約20×57mm

全長(zhǎng):約550~ 1.550mm

    (伸縮式)

1點(diǎn)定壓接觸式

     Φ5.6×94mm

選擇產(chǎn)品

V形套頭/—

(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

(鐵用)

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板(鐵用)

收納袋子

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

       (鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個(gè)的皮膜、襯層等等手不能進(jìn)去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測(cè)量。

鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測(cè)量。

SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測(cè)頭(2)(Fe)

型號(hào)

Fe-10

Fe-20

測(cè)量方式

電磁感應(yīng)式

測(cè)量范圍

0~10mm

0~20mm

表示分解率

1μm:0~999μm

0.01mm:1~10mm

 1μm:0~999μm

0.01mm:1~5mm

0.1mm:5~20mm

測(cè)量精度

(平滑面)

0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

             3.01mm:顯示值的±3%

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ18×47mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×59mm

選擇產(chǎn)品

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

探測(cè)頭要根據(jù)需要購(gòu)買(mǎi)。

SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測(cè)頭(NFe)

型號(hào)

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

測(cè)量方式

渦電流式

測(cè)量范圍

0~2.00mm

0~600μm

0~8mm

表示分解率

1μm:0~999μm

切換

0.1μm:0~400μm

 0.5μm:400~500μm

 0.01mm:1.00~2.00mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

1μm:0~999μm

0.01mm:1~8mm

測(cè)量精度

(平滑表面)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以?xún)?nèi)

101μm~2.00mm:

         ±2%以?xún)?nèi)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以?xún)?nèi)

101μm~600μm:

         ±2%以?xún)?nèi)

0~100μm:±1μm

±(±1μm+顯示值的±2%)

101μm~8mm:

         ±2%以?xún)?nèi)

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

2.0:φ13×47mm

2.0L:18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ11×48mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×61mm

選擇產(chǎn)品

V形套頭/-

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(非鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鋁、銅等非磁性金屬底材

上的絕緣性皮膜等一般普

通測(cè)量物用。

鋁、銅等非磁性金屬底

材上的絕緣性皮膜等

細(xì)小的圓棒、細(xì)管、小

物件等的高安定性用。

鋁、銅等非磁性金屬

底材上的絕緣性皮膜等

比較厚的測(cè)量物用。

探測(cè)頭要根據(jù)需要購(gòu)買(mǎi)。




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